技术文章
Technical articles台式扫描电子显微镜是一种体积相对较小、便于放置在实验台或办公室内使用的电子显微镜。与传统的大型扫描电子显微镜相比,DSEM在保持高分辨率成像能力的同时,更加注重设备的便携性、操作简便性以及成本效益,使得更多科研机构、高校实验室乃至中小企业都能负担得起并有效利用这一科技手段。DSEM的工作原理基于电子与物质相互作用的基本原理。它发射一束极细的电子束,通过电磁透镜聚焦后,扫描样品表面。电子束与样品表面原子发生相互作用,产生二次电子、背散射电子等信号。这些信号被探测器捕获并转换成电...
在当今这个环保意识日益增强的时代,各行各业都在积极寻求绿色、可持续的发展道路。对于制造业而言,确保产品符合环保标准不仅是对消费者负责的表现,更是企业长远发展的基石。而ROHS金属成分分析仪,正是这样一款助力企业精准检测、确保产品环保合规的神器。ROHS,即《关于限制在电子电气设备中使用某些有害成分的指令》,是欧盟为了保护环境和人类健康而制定的一项强制性标准。该指令要求,投放欧盟市场的电子电气设备中不得含有铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚等有害物质。这一标准的实施,对全...
ROHS指令作为欧盟针对电子产品中有害物质限制的重要法规,对于全球电子产品制造商来说,都是必须严格遵守的标准。然而,如何确保产品中的金属成分符合ROHS要求,却一直是许多企业面临的难题。如今,随着ROHS金属成分分析仪的问世,这一问题得到了有效的解决。这款分析仪以其一键快速检测的功能,极大地简化了金属成分的检测过程。在过去,企业可能需要将样品送至专业的检测机构,等待漫长的时间才能得到检测结果。而现在,只需将样品放入分析仪中,轻轻一点,即可在短时间内获得准确的金属成分数据。这种...
电子扫描电镜(SEM),全称扫描电子显微镜,是一种先进的微观分析工具。其工作原理基于电子束与样品表面的相互作用。当高能电子从电子枪发射,经过聚焦后形成细小的电子束,该电子束在样品表面按顺序逐行扫描。在扫描过程中,电子束与样品相互作用,激发出二次电子、背散射电子等信号。这些信号被相应的探测器收集,并转换成电信号,最终经过处理后形成高分辨率的图像。SEM的成像技术主要依赖于二次电子和背散射电子。二次电子主要用于显示样品的表面形貌,成像效果具有三维立体感,能够清晰呈现样品的微小结构...
日本电子扫描电镜作为高精度科研仪器,对样品制备的要求高。以下是样品制备的技巧与注意事项:技巧方面:选择合适的固定方法:根据样品的性质和形态,选择合适的固定方法,如导电胶带粘贴、机械固定等,确保样品在观察过程中不会移动或变形。注意导电处理:对于不导电或导电性差的样品,要进行导电处理,如喷镀导电膜,以提高样品的导电性,避免荷电效应影响图像质量。保持样品干燥:样品需干燥无水、无易挥发溶剂,否则在真空环境中挥发出来的水蒸气或溶剂会引起灯丝故障,影响仪器性能。注意事项:避免污染:样品在...
SEM(扫描电镜)是一种利用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像的技术,其工作原理类似于闭路电视系统。电子束由三极电子枪发射,经过加速电压和多个电子透镜聚焦后,按顺序逐行扫描样品表面,激发样品产生二次电子、背散射电子等物理信号。这些信号被收集器接收并放大后,送到显像管上形成与样品表面特征相对应的画面。在操作SEM时,首先需要确保设备及其附属设备(如真空系统、冷却系统)处于正常工作状态,并进行预热。然后,将准备好的样品放置在样品台上,关闭真空腔并启动真空泵进行抽真空。接下来,根据样...
电子显微镜作为半导体工业中的工具,发挥着至关重要的作用。其高分辨率成像能力使得研究人员能够深入到纳米级别,精确检测和分析半导体材料中的各种微观结构和缺陷。在半导体制造过程中,电子显微镜被广泛应用于质量检测、结构分析、失效分析和能谱分析等环节。通过电子显微镜,研究人员可以观察到半导体芯片和封装材料的内部结构,检测出其中的缺陷、裂纹、气泡等微观结构问题,确保产品的质量和可靠性。同时,电子显微镜还可以对半导体材料进行元素分析,确定材料中的元素含量和化学状态,为材料研发和工艺控制提供...
TEM断层扫描系统是结合了透射电子显微镜的高分辨率成像能力与断层扫描技术的三维重构能力。这一组合使得科学家们能够以精度,对微小样品进行逐层扫描,进而构建出其在三维空间中的完整结构。这一技术的出现,无疑为材料科学、生物学、医学等多个领域的研究开辟了新的道路。在材料科学领域,TEM断层扫描系统为纳米材料的研发提供了强有力的支持。通过精确测量纳米颗粒的形状、尺寸以及分布,科学家们能够更深入地理解材料的性能与结构之间的关系,从而指导新材料的合成与优化。此外,该技术还能揭示材料在微观尺...