测角台系统是透射电子显微镜（TEM）极其重要的硬件之一。无论是早期的顶插式还是目前主流的侧插式，都需要操作人员手动将样品杆插入或拔出测角台。这种传统的操作方式，易出错且非常依赖实验人员的操作熟练度，已经无法满足现阶段材料研究和工业分析领域简便高效、高通量的分析需求。日本电子场发射透射电子显微镜JEM-F200全新的测角台系统了传统的操作方式，实现了全自动进出样品杆，并且兼顾了超高精度和稳定性，是电镜技术发展历程中一个里程碑式的变革。插拔样品杆作为透射电镜操作的入门课程，传统的...