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产品简介
IB-09060CIS™ 低温冷冻离子切片仪易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 化工,电子,综合 |
低温冷冻离子切片仪带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
低温冷冻离子切片仪特点：
①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。
④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。
*最大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品。
③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。
④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。
*最大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
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