透射电子显微镜（TEM）是一种先进的成像技术，它利用电子束穿透样品并与其内部原子相互作用，从而生成样品的内部结构图像。其原理基于电子的波动性质，电子束经过高压加速后，通过聚光镜聚焦，穿透样品时受到样品的调制，携带了样品的内部信息，再通过物镜、中间镜和投影镜的放大，最终在荧光屏或照相底片上成像。TEM在材料科学、生物医学和纳米技术等领域具有广泛的应用。在材料科学中，TEM常用于研究材料的微观结构、晶体缺陷、相界面和纳米尺度下的材料行为。通过TEM图像，科学家可以了解材料的原子排...

透射电子显微镜的原理是利用电子束作为光源，通过电磁透镜将电子束成像在荧光屏幕上，从而获得样品的形貌、结构和组成等信息。具体来说，透射电子显微镜的工作原理可以分为以下几个步骤：电子枪：透射电子显微镜使用热阴极电子枪，通过加热阴极材料发射出电子束。加速和聚焦：电子束通过加速电压的作用，获得足够的能量，并且在电磁透镜的作用下被聚焦成很细的电子束。样品室：样品被放置在样品室内，经过电子束的轰击后，透射电子通过样品后带有样品的信息。电磁透镜成像：透射电子经过一系列的电磁透镜后，经过放大...

测角台系统是透射电子显微镜（TEM）极其重要的硬件之一。无论是早期的顶插式还是目前主流的侧插式，都需要操作人员手动将样品杆插入或拔出测角台。这种传统的操作方式，易出错且非常依赖实验人员的操作熟练度，已经无法满足现阶段材料研究和工业分析领域简便高效、高通量的分析需求。日本电子场发射透射电子显微镜JEM-F200全新的测角台系统了传统的操作方式，实现了全自动进出样品杆，并且兼顾了超高精度和稳定性，是电镜技术发展历程中一个里程碑式的变革。插拔样品杆作为透射电镜操作的入门课程，传统的...