ROHSXRF分析仪基于X射线荧光光谱技术（XRF），通过激发样品中元素的特征X射线荧光实现无损、快速检测，其核心原理与关键技术如下：
一、激发与荧光发射机制
初级X射线激发
仪器内置的X射线管（如Rh靶）产生高能初级X射线，穿透样品表面后与原子内层电子相互作用。当X射线能量超过电子结合能时，内层电子（如K层）被击出形成空穴，原子进入激发态。
特征荧光发射
激发态原子不稳定，外层电子（如L层）跃迁填补空穴，释放能量差形成特征X射线荧光。例如，铅（Pb）的Kα荧光能量为74.97keV，镉（Cd）为23.17keV，不同元素的荧光能量具有性，构成“元素指纹”。
二、荧光信号检测与分析
能量色散型（EDXRF）检测
采用硅漂移探测器（SDD）直接测量荧光能量，通过多道分析器（MCA）将信号转换为能谱图。横轴为能量（keV），纵轴为计数率，峰值位置对应元素种类，峰面积与含量正相关。
波长色散型（WDXRF）检测
通过晶体分光器按波长分离荧光，探测器逐点扫描获取光谱。WDXRF分辨率更高，但需机械转动部件，分析速度较慢。
三、定量分析技术
基本参数法（FPM）
基于理论模型计算荧光强度，结合样品基体效应（如吸收-增强效应）修正结果，适用于复杂基体样品。
经验系数法
使用标准样品建立校准曲线，通过回归分析确定元素含量。例如，检测电路板中铅含量时，需选择与样品基体（如环氧树脂）匹配的标样。
无标样分析技术
仪器制造商预先存储标准样品数据，用户通过参考样品校正仪器漂移，实现快速筛查。但该方法对轻元素（如氯、溴）准确性有限。
四、技术优势与应用场景
核心优势
无损检测：无需破坏样品，适用于成品筛查。
快速分析：单次检测仅需数秒至数分钟。
多元素同步：可同时检测RoHS指令限定的铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯醚等元素。
典型应用
电子制造：检测电路板、连接器中的有害物质。
玩具行业：筛查儿童玩具中的重金属（如锑、砷）。
环境监测：分析土壤、水体中的重金属污染。
五、局限性及改进方向
检测限与基体干扰
轻元素（如氯、溴）检测限较高，需采用真空模式或氦气吹扫减少空气吸收。复杂基体样品需结合激光剥蚀（LA-ICP-MS）提高准确性。
六价铬检测挑战
XRF无法区分铬的价态，需通过化学滴定或X射线吸收近边结构（XANES）技术补充分析。
ROHSXRF分析仪通过精准激发与检测元素特征荧光，为环保合规检测提供了高效、可靠的技术手段，是电子产业绿色转型的关键工具。
更新时间：2025-08-08
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