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扫描电镜(SEM)成像原理全解析:电子束与样品如何“对话”?

更新时间:2025-07-08点击次数:57
  扫描电镜(SEM)的成像核心在于电子束与样品的动态“对话”,这一过程通过电子-物质相互作用实现,最终将微观形貌转化为可视化图像。
  电子束的生成与聚焦
  电子枪是电子束的源头,其类型直接影响成像质量。热发射电子枪通过加热钨丝产生电子,而场发射电子枪利用强电场直接从金属抽取电子,可形成直径仅0.4-2纳米的超细束斑,使分辨率接近原子尺度。电子束经两级电磁透镜聚焦后,在样品表面形成纳米级扫描点,加速电压(0.1-30kV)则决定电子能量,高电压可穿透更厚样品,低电压则增强表面敏感度。
  电子与样品的“对话”机制
  当电子束轰击样品表面时,发生两类关键相互作用:
  弹性散射:电子与原子核碰撞后改变方向但能量损失极小,产生背散射电子(BSE)。其产额与原子序数正相关,因此BSE图像可反映样品成分分布,如金属颗粒在聚合物基体中的分散状态。
  非弹性散射:电子与原子外层电子碰撞导致能量损失,激发出二次电子(SE)和特征X射线。SE能量极低(1-15eV),仅来自样品表层5-10纳米,是表面形貌成像的核心信号;特征X射线则携带元素特征信息,通过能谱仪(EDS)可实现微区成分定量分析。
  信号收集与图像重建
  样品上方配置的探测器阵列实时捕获散射信号。SE探测器通常位于样品侧上方,以大化收集效率;BSE探测器则安装在更高角度,强化成分对比。计算机同步控制电子束扫描轨迹与信号采集,将每个扫描点的信号强度转换为灰度值,最终拼接成高分辨率图像。例如,在观察锂电池电极材料时,SEM可同时呈现活性颗粒的裂纹形貌(SE图像)与导电剂分布(BSE图像),为失效分析提供双重维度数据。
  真空环境的必要性
  样品室需维持高真空(10⁻³-10⁻⁶Pa),避免电子束与气体分子碰撞导致信号衰减。对于含水生物样品或非导电材料,需采用环境扫描电镜(ESEM)或镀膜处理(如喷金、喷碳),以平衡信号质量与样品完整性。
  动态成像与多模态拓展
  现代SEM已突破静态成像局限。通过原位加热/冷却台,可实时观察材料相变过程;结合电子背散射衍射(EBSD),可同步获取晶体取向信息;与拉曼光谱联用,则能实现形貌-成分-结构的三维表征。这些技术融合使SEM成为材料科学、生物医学等领域的“微观之眼”。